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EM-Tec EBSD & t-EBSD vorgekippter Probenhalter und Probenhalter-Kits


 


                                    Einige Beispielen
EM-Tec EBSD pre-tilt sample holders and sample holder kits EM-Tec P72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 Zoll Schliffproben, Std. Pin EM-Tec P72 EM-Tec H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 Zoll Schliffproben, M4 EM-Tec P71 EM-Tec P71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 Zoll Schliffproben, Std. Pin EM-Tec P71 EBSD EM-Tec H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 Zoll Schliffproben, M4

Einleitung

Die EM-Tec EBSD Probenhalter sind alle 70° vorgekippt, um die EBSD-Analyse zu erleichtern. Durch den vorgegebenen 70° Winkel ist es nicht nötig, die Probenbühne zu kippen. Die Probenbühne nicht kippen zu müssen, bringt große Vorteile:

  • Schnelle Probenbeladung
  • Kein "Kriechen" der Probenbühne durch schwere Proben
  • Keine Beeinflussung der Probenbühne auf Detektoren oder Polschuh
  • Probe befindet sich automatisch im richtigen Winkel für die EBSD-Analyse

Erhältliche EM-Tec EBSD 70° vorgekippte Probenhalter sind:

  • EM-Tec P70 / H70 Halter 70° vorgekippter für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P70M / H70M Halter 70° vorgekippter für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Std. Pin /M4
  • EM-Tec P71 / H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1" Schliffproben, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P72 / H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4" Schliffproben, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P73 / H73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P74 / H74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P75 / H75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-chips / dünne Proben, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P76 / H76 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 4mm, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P77 / H77 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 8mm, Std. Pin / M4
  • EM-Tec P78 / H78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16mm, Std. Pin / M4
  • EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalter für ein TEM / FIB Lift-out Grid, Std. Pin / M4
  • EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalter für drei TEM / FIB Lift-out Grid, Std. Pin / M4

Die EBSD Probenhalter-Kits kombinieren eine Reihe verfügbarer EM-Tec Halter: Halter für metallographische Schliffproben oder geologische Schliffplatten zusammen mit EBSD 70° Probenhalter, und einer 30 mm (1 1/4") Verlängerung für den benötigten Abstand. Benötigt man die Verlängerung nicht bei seiner REM Probenbühne, kann sie auch einfach entfernen werden. EM-Tec 70° vorgekippte Halter für EBSD sind mit Stiftprobenaufnahme (Pin) oder mit M4 Gewindebohrung erhältlich.
Vor Gebrauch von JEOL Adaptern sollte man überprüfen, ob die Höheneinstellung des Probentisches ausreicht oder ob man vielleicht die Pin-Version einsetzen kann


Daten, Maße und Probenhaltemethode der EBSD vorgekippter Probenhalter:

Artikelnr.

Typ

Kippwinkel

Maße ohne Pin

Stub / Kompatibilität

Aufnahme

10-002270

EM-Tec P70

70° EBSD

12.5x12.5x20 mm

3,2 mm Stiftprobenteller

3,2 mm Stiftprobenteller

10-002274

EM-Tec P70M

70° EBSD

12.5x12.5x20 mm

Hitachi M4 Gewinde

3,2 mm Stiftprobenteller

12-000268

EM-Tec P71

70° EBSD

Ø34x38x29 mm

Ø25 mm Schliffe

3,2 mm Stiftprobenteller

12-000269

EM-Tec P72

70° EBSD

Ø40x48x30 mm

Ø32 mm Schliffe

3,2 mm Stiftprobenteller

12-000272

EM-Tec P73

70° EBSD

52x32x25 mm

48x28 mm Schliffplatten

3,2 mm Stiftprobenteller

12-000273

EM-Tec P74

70° EBSD

12.5x21x22 mm

FIB lift-out Grids

3,2 mm Stiftprobenteller

12-000274

EM-Tec P75

70° EBSD

12.5x28x22 mm

Si-chips / dünne Proben

3,2 mm Stiftprobenteller

12-003274

EM-Tec P76

70° EBSD

12.5x20x21 mm

Querschnitte 0-4 mm

3,2 mm Stiftprobenteller

12-003278

EM-Tec P77

70° EBSD

15x23x24 mm

Querschnitte 0-8 mm

3,2 mm Stiftprobenteller

12-003279

EM-Tec P78

70° EBSD

25x23x30 mm

0-16 mm

3,2 mm Stiftprobenteller

12-002271

EM-Tec TE1

70°/ 20° t-EBSD

12.5x12.5x30 mm

Ø3,05 mm TEM Grid

3,2 mm Stiftprobenteller

12-002273

EM-Tec TE3

70°/ 20° t-EBSD

12.5x12.5x30 mm

Ø3,05 mm TEM Grids

3,2 mm Stiftprobenteller

12-000370

EM-Tec H70P

70° EBSD

12.5x12.5x20 mm

3,2 mm Stiftprobenteller

M4 Gewinde

12-000371

EM-Tec H70

70° EBSD

12.5x12.5x20 mm

Hitachi M4 Gewinde

M4 Gewinde

12-000368

EM-Tec H71

70° EBSD

Ø34x38x29 mm

Ø25 mm Schliffe

M4 Gewinde

12-000369

EM-Tec H72

70° EBSD

Ø40x48x29 mm

Ø32 mm Schliffe

M4 Gewinde

12-000372

EM-Tec H73

70° EBSD

52x32x25 mm

48x28 mm Schliffplatten

M4 Gewinde

12-000373

EM-Tec H74

70° EBSD

12.5x21x22 mm

FIB lift-out Grids

M4 Gewinde

12-000374

EM-Tec H75

70° EBSD

12.5x28x22 mm

Si-chips / dünne Proben

M4 Gewinde

12-003374

EM-Tec H76

70° EBSD

12.5x20x21 mm

Querschnitte 0-4 mm

M4 Gewinde

12-003378

EM-Tec H77

70° EBSD

15x23x24 mm

Querschnitte 0-8 mm

M4 Gewinde

12-003379

EM-Tec H78

70° EBSD

25x23x30 mm

0-16 mm

M4 Gewinde

12-003271

EM-Tec TE1

70°/ 20° t-EBSD

12.5x12.5x30 mm

Ø3,05 mm TEM grid

M4 Gewinde

12-003273

EM-Tec TE3

70°/ 20° t-EBSD

12.5x12.5x30 mm

Ø3,05 mm TEM grids

M4 Gewinde


Bestellinformationen zu den kompakten EM-Tec EBSD vorgekippter Probenhalter für REM mit Pin Stub Aufnahme; FEI, Philips, Zeiss, LEO Tescan, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, and CamScan,

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec P70 Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, Std. Pin EM-Tec P70 Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002270 Stück €44,50
Anz:



EM-Tec P70M Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, Std. Pin EM-Tec P70M Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002274 Stück €44,50
Anz:



EM-Tec P71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 EM-Tec P71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1" Schliffproben, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000268 Stück €106,50
Anz:



EM-Tec P72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 EM-Tec P72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4" Schliffproben, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000269 Stück €128,75
Anz:



EM-Tec P78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, Std. Pin EM-Tec P78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003279 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec P77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, Std. Pin EM-Tec P77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003278 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec P76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, Std. Pin EM-Tec P76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003274 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit für drei 20° / 70° TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit für drei 20° / 70° TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002273 Stück €482,50
Anz:



EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002271 Stück €327,50
Anz:



EM-Tec P75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, Std. Pin EM-Tec P75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000274 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec P74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, Std. Pin EM-Tec P74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000273 Stück €72,50
Anz:



EM-Tec P73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, Std. Pin EM-Tec P73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000272 Each €249,50
Anz:


Bestellinformationen zu den kompakten EM-Tec EBSD vorgekippter Probenhalter für Hitachi REM und EM-Tec vielseitige REM Probentischadapter.

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec H70P Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, M4 EM-Tec H70P Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Stiftprobenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000370 Stück €44,50
Anz:



EM-Tec H70 Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, M4 EM-Tec H70 Halter 70° angeschrägt für EBSD, für Hitachi M4 Probenteller/Halter, Ø 12,7 x 20 mm, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000371 Stück €44,50
Anz:



EM-Tec H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1 EM-Tec H71 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 25 mm / Ø 1" Schliffproben, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000368 Stück €103,50
Anz:



EM-Tec H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4 EM-Tec H72 EBSD 70° Schliffprobenhalter für Ø 30 mm / Ø 32 mm / Ø 1 1/4" Schliffproben, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000369 Stück €125,75
Anz:



EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, M4 Gewinde EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, M4 Gewinde
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003273 Stück €480,50
Anz:



EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, M4 Gewinde EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, M4 Gewinde
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003271 Stück €325,50
Anz:



EM-Tec H78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, M4 EM-Tec H78 EBSD 70° Klemmprobenhalter für Querschnitte bis 16 mm, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003379 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec H77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, M4 EM-Tec H77 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 8 mm, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003378 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec H76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, M4 EM-Tec H76 EBSD 70° Probenhalter für Querschnitte bis 4 mm, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003374 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec H75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, M4 EM-Tec H75 EBSD 70° S-Clip Probenhalter für Si-Chips / dünne Proben, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000374 Stück €69,00
Anz:



EM-Tec H74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, M4 EM-Tec H74 EBSD 70° Probenhalter für FIB Lift-Out-Lamellen, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000373 Stück €72,50
Anz:



EM-Tec H73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, M4 EM-Tec H73 EBSD 70° Schliffprobenhalter für geologische Schliffplatten bis 48 x 28 mm, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000372 Stück €243,50
Anz:






REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probe Vorbereitung

AFM / SPM

  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente


  Schallschutzboxen
  Kritisch-Punkt-Trockner CPD
  Cressington REM Beschichtung
  HI-Res IR-Kamera
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Probenkontrastierung
  TEM Grid Aufbewahrung
  Kryo Grid Box
  Kathoden
  Kryo Pin für Ultramikrotome
  Kunstwimper-Manipulartorset

FIB Zubehör


  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS
  TEM
  AFM / SPM
  LM

Vakuum Zubehör


  Bullseye Vakuummessung
  D215V Vakuummessung
  D801W Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Kryo-Behälter
  OCT Kryo-Einbettungsmittel
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder & Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Edelstahlgitter
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Schneidunterlagen
  Reinigung / Handschuhe
  Diamantpolierpaste
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Mica Scheiben
  HOPG Substrate


LM


  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen