EM-Tec Probenteller für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil


Einleitung
  Beispiele   
  Beispeilen von EM-Tec Probentellern für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil

 

Die Probenteller mit niedrigem Profil wurden speziell für FIB- und REM-Anwendungen entwickelt, um kurze Arbeitsabstände zwischen Probe und Polschuh des FIB-/REM-Systems zu ermöglichen. Sie sind erhältlich als flache, vertikal und im FIB-Winkel angeschrägte Versionen auf Standard Ø 12,7 mm Probentellern und eine flache Version der Standard Ø 25,0 mm Probenteller. Die im FIB-Winkel angeschrägten Versionen erlauben, die Probenoberfläche im rechten Winkel zur FIB-Säule zu untersuchen, ohne die Probenbühne zu kippen. Der Kippwinkel ist relativ zur vertikalen Elektronensäule des FIB-REM-Systems. Die Probenteller sind aus für Vakuum geeignetem Aluminium hergestellt und voll kompatibel mit Standardprobentellern zur Ablage und für das Handling.


Erhältlich als folgende Modelle:

  • Niedrigprofilige, flache, horizontale Stiftprobenteller mit kurzem oder Standard Pin
  • Niedrigprofilige, Ø25,0 mm flache, horizontale Stiftprobenteller mit Standard Pin
  • Niedrigprofilige, 90° vertikale Stiftprobenteller mit kurzem oder Standard Pin
  • 38° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für FEI DualBeam und FIB-REM-Systeme
  • 36° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für Zeiss CrossBeam und FIB-REM-Systeme
  • 35° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für TESCAN LYRA FIB/SEM, GAIA UHR FIB/SEM, FERA Plasma FIB/SEM, XEIA Plasma UHR FIB/SEM Systeme

Spezifikationen vonProbenteller für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil

Artikelnr.   

Winkel

FIB/REM

Durchmesser

Standard Pin

Kürzer Pin

Gestuft

10-002112

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

-

10-002126

FEI, Tescan

Ø25 mm

V

-

-

10-002114

90°

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-002115

35°

Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-002118

38°

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-003112

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

-

10-003114

90°

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

V

10-003116

36°

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

V



Bestellangaben Probenteller mit niedrigem Profil für FEI und/oder TESCAN FIB-REM-Systeme

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002112-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €7,50
10-002112-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €14,25
10-002112-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €67,50

 

EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002126-5 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €18,75
10-002126-10 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €36,00
10-002126-50 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €177,50

 

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002114-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €10,50
10-002114-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €19,50
10-002114-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €94,50

 

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002115-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €13,00
10-002115-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €25,00
10-002115-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €118,50

 

EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium, Aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002252 EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium
Qty:

Stück €6,50

 

EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxSEM, aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxSEM, aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002255 EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxREM, aluminium
Qty:

Stück €6,50

 

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002118-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €13,00
10-002118-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €25,00
10-002118-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €118,50

 

Bestellangaben Probenteller mit niedrigem Profil für ZEISS FIB-REM-Systeme

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003112-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €7,50
10-003112-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €14,25
10-003112-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €67,50

 

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003114-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €10,50
10-003114-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €19,50
10-003114-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €94,50

 

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003116-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/5 €13,00
10-003116-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/10 €24,50
10-003116-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Qty:

Pack/50 €116,50

 

EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss CrossBeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium, Aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss CrossBeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003254 EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss Crossbeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium
Qty:

Stück €6,50

 



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits
  FlowView Flüssigproben-Halter

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Kompakte Sputter Coaters
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Präzisions-Diamantsäge
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenteller
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Vakuummessung
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Vakuumpinzetten

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit

Bedampfung Zubehör

  Therm. Verdampfungsquellen
  Bedampfungsmaterialien
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Sortier-Gewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  PTFE Becher