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EM-Tec Probenteller für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil



Einleitung
  Beispiele   
  Beispeilen von EM-Tec Probentellern für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil

 

Die Probenteller mit niedrigem Profil wurden speziell für FIB- und REM-Anwendungen entwickelt, um kurze Arbeitsabstände zwischen Probe und Polschuh des FIB-/REM-Systems zu ermöglichen. Sie sind erhältlich als flache, vertikal und im FIB-Winkel angeschrägte Versionen auf Standard Ø 12,7 mm Probentellern und eine flache Version der Standard Ø 25,0 mm Probenteller. Die im FIB-Winkel angeschrägten Versionen erlauben, die Probenoberfläche im rechten Winkel zur FIB-Säule zu untersuchen, ohne die Probenbühne zu kippen. Der Kippwinkel ist relativ zur vertikalen Elektronensäule des FIB-REM-Systems. Die Probenteller sind aus für Vakuum geeignetem Aluminium hergestellt und voll kompatibel mit Standardprobentellern zur Ablage und für das Handling.


Erhältlich als folgende Modelle:

  • Niedrigprofilige, flache, horizontale Stiftprobenteller mit kurzem oder Standard Pin
  • Niedrigprofilige, Ø25,0 mm flache, horizontale Stiftprobenteller mit Standard Pin
  • Niedrigprofilige, 90° vertikale Stiftprobenteller mit kurzem oder Standard Pin
  • 38° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für FEI DualBeam und FIB-REM-Systeme
  • 36° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für Zeiss CrossBeam und FIB-REM-Systeme
  • 35° komplementär angeschrägte Stiftprobenteller für TESCAN LYRA FIB/SEM, GAIA UHR FIB/SEM, FERA Plasma FIB/SEM, XEIA Plasma UHR FIB/SEM Systeme

Spezifikationen vonProbenteller für FIB-Applikationen mit niedrigem Profil

Artikelnr.   

Winkel

FIB/REM

Durchmesser

Standard Pin

Kürzer Pin

Gestuft

10-002112

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

-

10-002126

FEI, Tescan

Ø25 mm

V

-

-

10-002114

90°

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-002115

35°

Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-002118

38°

FEI, Tescan

Ø12.7 mm

V

-

V

10-003112

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

-

10-003114

90°

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

V

10-003116

36°

Zeiss

Ø12.7 mm

-

V

V




Bestellangaben Probenteller mit niedrigem Profil für FEI und/oder TESCAN FIB-REM-Systeme

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002112-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €7,50
10-002112-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €14,25
10-002112-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €67,50

EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002126-5 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €18,75
10-002126-10 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €36,00
10-002126-50 EM-Tec REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 25 mm Kopf, 1 mm hoch, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €177,50

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002114-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €10,50
10-002114-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €19,50
10-002114-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €94,50

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002115-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €13,00
10-002115-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €25,00
10-002115-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 35° Schräge für Tescan FIB-REM, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €118,50

REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-002118-5 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €13,00
10-002118-10 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €25,00
10-002118-50 REM Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 38° für FEI FIB, Standard Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €118,50


Bestellangaben Probenteller mit niedrigem Profil für ZEISS FIB-REM-Systeme

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium Low profile Zeiss pin stub Ø12.7 diameter with 1mm height, short pin, aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-003112-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €7,50
10-003112-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €14,25
10-003112-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 1 mm hoch, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €67,50

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium Low profile Zeiss pin stub Ø12.7 diameter with 90°, short pin, aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-003114-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €10,50
10-003114-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €19,50
10-003114-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 90° Stufe, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €94,50

ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium Low profile Zeiss pin stub Ø12.7 diameter with 36° for Zeiss SEM/ FIB systems, short pin, aluminium
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
10-003116-5 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/5 €13,00
10-003116-10 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/10 €24,50
10-003116-50 ZEISS Stiftprobenteller, niedriges Profil, Ø 12,7 mm Kopf, 36° Schräge für FIB-REM, kurzer Pin, Aluminium
Anz:

Pack/50 €116,50




REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probe Vorbereitung

AFM / SPM

  REM Probenteller
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente


  Schallschutzboxen
  Kritisch-Punkt-Trockner CPD
  Cressington REM Beschichtung
  HI-Res IR-Kamera
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Graphen Filme
  TEM Probenkontrastierung
  TEM Aufbewahrung
  Kryo Grid Box
  Kathoden
  Kryo Pin für Ultramikrotome
  Kunstwimper-Manipulartorset

FIB Zubehör


  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS
  TEM
  AFM / SPM
  LM

Vakuum Zubehör


  Bullseye Vakuummessung
  D215V Vakuummessung
  D801W Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Kryo-Behälter
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder & Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Edelstahlgitter
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Schneidunterlagen
  Reinigung / Handschuhe
  Diamantpolierpaste
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Mica Scheiben
  HOPG Substrate


LM


  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen