EM-Tec variabel kippbare und gewinkelte Probenhalter
EM-Tec Adapter Probenteller
Standard REM Stiftprobenteller
Zeiss REM Stiftprobenteller
JEOL REM Probenteller
Hitachi M4 REM Probenteller
EM-Tec variabel kippbare und gewinkelte Probenhalters
Einige Beispiele
1-Der EM-Tec TV25 ist ein großer Kippprobenhalter, 0-90° variabel
kippbar,
für Probenteller oder Probenhalter bis max. Ø 38 mm. Größere
Stubs
können zwar montiert werden, behindern aber evtl. die Kippung.
Kompatibel sowohl mit Pin-Aufnahme, als auch mit Hitachi M4 Stubs
und
Haltern. Erhältlich mit Pin Stub (#12-000248)
oder M4 Gewindebohrung (#12-000348).
2-
Der TV12 Mini-Kippprobenteller ermöglicht variable 0-90° Kippung auf
einem extrem kleinen Probenhalter. Erhältlich mit Pin Stub (#12-000241)
oder M4 Gewindebohrung (#12-000347). Die Proben müssen auf die
Kippfläche geklebt werden. Eingravierte Winkelanzeigen bei
0°, 30°, 45°, 70° und 90° an der Seite des Kippteils helfen bei der
Einstellung des gewünschten Kippwinkels
3-EM-Tec H45 Halter (#12-000341), beliebter, 45° angeschrägter Halter
mit M4,
für Hitachi M4 Stubs oder Halter mit M4 Gewindebohrung.
4- EM-Tec P38 Halter ((#10-002238), 38° Schräge für FEI Pin Stubs.
Zur
Vorkippung von Probentellern um 38° für FEI Dual Beam FIB-Systeme
Einleitung
Mit den EM-Tec variabel kippbaren, schwenkbaren und gewinkelten Probenhalter können Proben oder Probenteller so gekippt werden, dass eine Kippung des Probentisches nicht mehr nötig ist. Die Probenhalter können je nach Version Standard Pin Stubs und/oder Hitachi Stubs aufnehmen. Die Kipphalter sind praktisch im Tabletop REM ohne eigene Kippmöglichkeit. In Standard REM vermeiden die kipp- oder schwenkbaren Probenhalter eventuelle Konflikte zwischen Probentisch und Poleschuh oder Detektoren. Alle sind aus vakuumtauchligen Aluminium hergestellt.
Die erhältlichen EM-Tec Kipphalter sind:
:
- Der TV12 Mini-Kippprobenteller ermöglicht variable 0-90° Kippung auf einem extrem kleinen Probenhalter. Erhältlich mit Pin Stub (#12-000241) oder M4 Gewindebohrung (#12-000347). Die Proben müssen auf die Kippfläche geklebt werden. Eingravierte Winkelanzeigen bei 0°, 30°, 45°, 70° und 90° an der Seite des Kippteils helfen bei der Einstellung des gewünschten Kippwinkels. Auch erhältlich als EM-Tec TV12-P für die Montage von 12,7mm Standard-Stiftprobenteller mit 3.2mm Standard-Stift (#12-000297) oder M4-Gewinde (#12-000397)
- Der EM-Tec TV25 ist ein großer Kippprobenhalter, 0-90° variabel kippbar, für Probenteller oder Probenhalter bis max. Ø 38 mm. Größere Stubs können zwar montiert werden, behindern aber evtl. die Kippung. Kompatibel sowohl mit Pin-Aufnahme, als auch mit Hitachi M4 Stubs und Haltern. Erhältlich mit Pin Stub (#12-000248) oder M4 Gewindebohrung (#12-000348).
- EM-Tec GS10 (#12-000110) - Ein Schwenkprobenhalter der 180° kippbar und auf seiner Sub-Aufnahme drehbar ist. Ultimativer Halter für die Abbildung von Cross-Sections in jedem gewünschten Winkel. Die Größe des Halters ohne Klemmschrauben beträgt lediglich 16 x 16 x 14 mm. Die Probe wird mit zwei Schrauben geklemmt. Der Kippwinkel kann mit einer Schraube fixiert werden. Der Halter ist aus vergoldetem Messing.
- EM-Tec PS15 (#12-000211) - Ein Schwenkprobenteller der 180° kippbar und auf seiner Sub-Aufnahme drehbar ist. Bestens geeignet für REM, die nicht über einen Kippmechanismus verfügen. Ist der gewünschte Winkel eingestellt, wird der Probenteller mit einer Inbusschraube fixiert. Der Tellerdurchmesser beträgt 15 mm, die Höhe (ohne Pin) ebenfalls 15 mm.
- EM-Tec P36 Halter (#10-002236), 36° Schräge für Zeiss Pin Stubs. FIB-Systeme. Zur Vorkippung von Probentellern um 36° für Zeiss CrossBeam FIB-Systeme.
- EM-Tec P38 Halter (#a10002238), 38° Schräge für FEI Pin Stubs. Zur Vorkippung von Probentellern um 38° für FEI Dual Beam FIB-Systeme.
- EM-Tec P45 Halter (#10-002245), beliebter, 45° angeschrägter Halter mit Standard Pin, für Standard oder Zeiss Stiftprobenteller.
- EM-Tec P45M Halter (#10-002246), beliebter, 45° angeschrägter Halter mit Standard Pin, für Hitachi M4 Stubs oder Halter mit M4 Gewindebohrung.
- EM-Tec H45P Halter (#12-000345), beliebter, 45° angeschrägter Halter mit M4, für Standard oder Zeiss Stiftprobenteller.
- EM-Tec H45 Halter (#12-000341), beliebter, 45° angeschrägter Halter mit M4, für Hitachi M4 Stubs oder Halter mit M4 Gewindebohrung.
- EM-Tec P70 Halter (#10-002270), 70° angeschrägt für EBSD, mit Standard Pin, für Standard Stiftprobenteller und Stiftprobenhalter.
- EM-Tec P70M Halter (#10-002274), 70° angeschrägt für EBSD, mit Standard Pin, für Hitachi M4 Stubs oder Halter mit M4 Gewindebohrung..
- EM-Tec H70P Halter (#12-000370), 70° angeschrägt für EBSD, mit M4 REM-Aufnahme, für Standard Stiftprobenteller und Stiftprobenhalter.
- EM-Tec H70 Halter (#12-000371), 70° angeschrägt für EBSD, mit M4 REM-Aufnahme, für Hitachi M4 Stubs oder Halter mit M4 Gewindebohrung.
- EM-Tec 45° Multi-Probenhalter für Pin Stubs finden Sie hier: EM-Tec Multi-Probenhalter für Pin Stubs
- EM-Tec 45° Multi-Probenhalter für M4 Stubs finden Sie hier: EM-Tec Multi-Probenhalter für Hitachi M4 Stubs
Alle Halter sind präzisionsgefertigt aus vakuumfestem Aluminium und beinhalten Feststellschrauben und Inbusschlüssel.
Zur Nutzung der variabel kippbaren und gewinkelten Probenhalter auf JEOL REM finden Sie die JEOL Pin Stub und JEOL M4 Adapter hier: EM-Tec REM Stub-Adapter
Artikelnr. |
Art |
Kippwinkel |
Maße ohne Pin |
Stub-Aufnahme |
REM-Aufnahme |
TV12 |
0 to +/-90° |
14x14x14/20mm |
K.A. |
3.2mm Probenteller |
|
TV12 |
0 to +/-90° |
14x14x14/20mm |
K.A. |
M4 Gewinde |
|
TV12-P |
0 to +/-90° |
16.5x14.5x14.3/19mm |
3.2mm Pin Stub |
3.2mm Probenteller |
|
TV12-P |
0 to +/-90° |
16.5x14.5x14.3/19mm |
3.2mm Pin Stub |
M4 Gewinde |
|
TV25 |
0-90° |
35x25x10.5/29.5mm |
Pin stub / Hitachi M4 |
3.2mm Probenteller |
|
TV25 |
0-90° |
35x25x10.5/29.5mm |
Hitachi M4 / Probenteller |
M4 Gewinde |
|
GS10 |
-90°-0-90° |
28x16x27mm |
K.A. Klemmung |
3.2mm Probenteller |
|
PS15 |
-90°-0-90° |
Ø15x15mm |
K,A .Befestigung |
3.2mm Probenteller |
|
P36 |
36° (Zeiss FIB) |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
|
P38 |
38° (FEI FIB) |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
|
P45 |
45° |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
|
P45M |
45° |
Ø12.7x17mm |
Hitachi M4 Gewinde |
3.2mm Probenteller |
|
H45P |
45° |
Ø12.7x17mm |
3.2mm Probenteller |
M4 Gewinde |
|
H45 |
45° |
Ø12.7x17mm |
Hitachi M4 Gewinde |
M4 Gewinde |
|
P70 |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
3.2mm Probenteller |
3.2mm Probenteller |
|
P70M |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
Hitachi M4 Gewinde |
3.2mm Probenteller |
|
H70P |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
3.2mm Probenteller |
M4 Gewinde |
|
H70 |
70° EBSD |
Ø12.7x20mm |
Hitachi M4 Gewinde |
M4 Gewinde |
Bestellinformationen zu EM-Tec variabel kippbaren und gewinkelten Probenhaltern für REM mit Pin Stub Aufnahme; TFS, FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica und CamScan SEMs
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