product field
product field2
contact field
contact field2

EM-Tec Schliffprobenhalter für metallographische Proben



Einleitung
EM-Tec Schliffprobenhalter fr metallographische Proben
   EM-Tec Schliffprobenhalter für Ø 30mm / Ø 1,25"
metallographische Proben, Pin

 
 

Die EM-Tec Schliffprobenhalter wurden entwickelt, um metallographische, petrographische und keramische Schliffproben oder Einbettungen aufzunehmen. Diese praktischen, robusten Halter sind ideal für zylindrische Proben aller Art. Die Halter sind in allen Standardmaßen für Schliffproben von 25 bis 50 mm Durchmesser (1" bis 2") erhältlich. Die Proben werden mit einer M3 Madenschraube gesichert. Ein passender Inbusschlüssel ist im Lieferumfang enthalten. Zusätzlich sind längere Schrauben dabei, um auch kleinere Proben zu klemmen. Alle Schliffprobenhalter sind aus vakuumfestem Aluminium gefertigt und haben ein seidenmattes Finish. Erhältlich mit:

  • Standard Stiftaufnahme für REM mit Standard Pin; FEI, Philips, Tescan, Phenom, Pemtron, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC und Novascan REM
  • M4 Gewindebohrung kompatibel mit Hitachi REM, FE-REM, Tabletop REM oder EM-Tec REM Adaptern
  • Ø14 mm JEOL Stub kompatibel mit JEOL REM-Probentischapter mit 14 mm Loch

Daten und Maße der EM-Tec Schliffprobenhalter:

Artikelnr.

Art

Mount sizes

Maße ohne Pin

Probenbefestigung

Aufnahme im REM

12-000226

EM-Tec M26

Ø25mm / Ø1”

Ø34x12.5mm

Madenschraube

3,2 mm Std.Stift

12-000326

EM-Tec M26

Ø25mm / Ø1”

Ø34x12.5mm

Madenschraube

M4 Gewinde

12-000626

EM-Tec M26

Ø25mm / Ø1”

Ø34x12.5mm

Madenschraube

Ø14 mm JEOL Stub

12-000232

EM-Tec M32

Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4”

Ø40x12.5mm

Madenschraube

3,2 mm Std.Stift

12-000332

EM-Tec M32

Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4”

Ø40x12.5mm

Madenschraube

M4 Gewinde

12-000632

EM-Tec M32

Ø30mm / Ø32mm / Ø1-1/4”

Ø40x12.5mm

Madenschraube

Ø14 mm JEOL Stub

12-000240

EM-Tec M40

Ø40mm / Ø1-1/2”

Ø48x12.5mm

Madenschraube

3,2 mm Std.Stift

12-000340

EM-Tec M40

Ø40mm / Ø1-1/2”

Ø48x12.5mm

Madenschraube

M4 Gewinde

12-000640

EM-Tec M40

Ø40mm / Ø1-1/2”

Ø48x12.5mm

Madenschraube

Ø14 mm JEOL Stub

12-000251

EM-Tec M51

Ø50mm / Ø2”

Ø59x12.5mm

Madenschraube

3,2 mm Std.Stift

12-000351

EM-Tec M51

Ø50mm / Ø2”

Ø59x12.5mm

Madenschraube

M4 Gewinde

12-000651

EM-Tec M51

Ø50mm / Ø2”

Ø59x12.5mm

Madenschraube

Ø14 mm JEOL Stub



Bestellinformationen zu EM-Tec Schliffprobenhaltern für REM mit Stiftaufnahme (Pin Stub); FEI, Philips, Zeiss, LEO, Tescan, Phenom, Pemtron, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC und Novascan REM


*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.

EM-Tec M26 Schliffprobenhalter fr  25 mm /  1 Std. Pin EM-Tec M26 Schliffprobenhalter fr 25 mm / 1 Std. Pin
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000226 Stck €26,50
Anz:


EM-Tec M32 Schliffprobenhalter fr  30 mm /  32 mm /  1 1/4 Zoll Schliffproben, Std. Pin EM-Tec M32 Schliffprobenhalter fr 30 mm / 32 mm / 1 1/4 Zoll Schliffproben, Std. Pin
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000232 Stck €26,50
Anz:


EM-Tec M40 Schliffprobenhalter fr  40 mm /  1 1/2 Zoll Schliffproben, Std. Pin EM-Tec M40 Schliffprobenhalter fr 40 mm / 1 1/2 Zoll Schliffproben, Std. Pin
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000240 Stck €31,50
Anz:


EM-Tec M51 Schliffprobenhalter fr  50 mm /  2 Zoll Schliffproben, Std. Pin EM-Tec M51 Schliffprobenhalter fr 50 mm / 2 Zoll Schliffproben, Std. Pin
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000251 Stck €32,50
Anz:



Bestellinformationen zu EM-Tec Schliffprobenhaltern für Hitachi REM oder EM-Tec REM Adapter


*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.

EM-Tec M26 Schliffprobenhalter fr  25 mm /  1 Zoll Schliffproben, M4 EM-Tec M26 Schliffprobenhalter fr 25 mm / 1 Zoll Schliffproben, M4
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000326 Stck €25,50
Anz:


EM-Tec M32 Schliffprobenhalter fr 30mm / 32mm / 1-1/4 Zoll Schliffproben, M4 EM-Tec M32 Schliffprobenhalter fr 30mm / 32mm / 1-1/4 Zoll Schliffproben, M4
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000332 Stck €25,50
Anz:


EM-Tec M40 Schliffprobenhalter fr  40 mm /  1 1/2 Zoll Schliffproben, M4 EM-Tec M40 Schliffprobenhalter fr 40 mm / 1 1/2 Zoll Schliffproben, M4
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000340 Stck €30,50
Anz:


EM-Tec M51 Schliffprobenhalter fr  50 mm /  2 Zoll Schliffproben, M4 EM-Tec M51 Schliffprobenhalter fr 50 mm / 2 Zoll Schliffproben, M4
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000351 Stck €31,50
Anz:



Bestellinformationen zu EM-Tec Schliffprobenhaltern für JEOL REM Probentisch-Adapter mit Ø14mm Loch


*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.

EM-Tec M26 Schliffprobenhalter fr  25 mm /  1 Zoll Schliffproben, JEOL EM-Tec M26 Schliffprobenhalter fr 25 mm / 1 Zoll Schliffproben, JEOL
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000626 Stck €26,50
Anz:


EM-Tec M32 Schliffprobenhalter fr  30 mm /  32 mm /  1 1/4 Zoll Schliffproben, JEOL EM-Tec M32 Schliffprobenhalter fr 30 mm / 32 mm / 1 1/4 Zoll Schliffproben, JEOL
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000632 Stck €26,50
Anz:


EM-Tec M40 Schliffprobenhalter fr  40 mm /  1 1/2 Zoll Schliffproben, JEOL EM-Tec M40 Schliffprobenhalter fr 40 mm / 1 1/2 Zoll Schliffproben, JEOL
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000640 Stck €31,50
Anz:


EM-Tec M51 Schliffprobenhalter fr  50 mm /  2 Zoll Schliffproben, JEOL EM-Tec M51 Schliffprobenhalter fr 50 mm / 2 Zoll Schliffproben, JEOL
Weitere Bilder
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000651 Stck €32,50
Anz:






REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probe Vorbereitung

AFM / SPM

  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente


  Schallschutzboxen
  Kritisch-Punkt-Trockner CPD
  Cressington REM Beschichtung
  HI-Res IR-Kamera
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  Graphen Filme
  TEM Probenkontrastierung
  TEM Aufbewahrung
  Kryo Grid Box
  Kathoden
  Kryo Pin für Ultramikrotome
  Kunstwimper-Manipulartorset

FIB Zubehör


  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS
  TEM
  AFM / SPM
  LM

Vakuum Zubehör


  Bullseye Vakuummessung
  D215V Vakuummessung
  D801W Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Kryo-Behlter
  OCT Kryo-Einbettungsmittel
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder & Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Edelstahlgitter
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Schneidunterlagen
  Reinigung / Handschuhe
  Diamantpolierpaste
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Mica Scheiben
  HOPG Substrate


LM


  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen