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EM-Tec transmission-EBSD Probenhalter für TEM und FIB Grids
für die Herstellung von Kikuchi Transmissions-Patterns



                                    
EM-Tec transmission-EBSD sample holders for TEM and FIB grids
Transmissions-EBSD oder t-EBSD  EBSD

Einleitung

EBSD Analyse ist ein leistungsstarkes mikrostrukturelles, kristallographisches Analyseverfahren für kristalline oder polykristalline Materialien. Standard EBSD Analyse bei Massenproben und Oberflächen wird bei stark gekippten Proben (typisch 70° horizontal) durchgeführt. Der EBSD Pattern zeigt dir Kristallorientierung und bei polychristalinen Materialien die Änderungen der Orientierung unter den Kristallen. Für optimale EBSD Resultate werden nicht deformierte, polierte Oberflächen benötigt.

Transmissions-EBSD-Analyse ist nur mit sehr dünnen TEM Proben möglich, die auf ein TEM Grid aufgebracht sind oder an einer TEM-Lamelle, befestigt an einem FIB Grid. EBSD Analyse dünner Proben kann im Backscatter-Modus bei 70° Kippung (horizontal) oder im Transmissions-Modus bei 20° (horizonal) durchgeführt werden. Für Transmissions-EBSD oder t-EBSD ist es extrem wichtig, das die gesendeten Elektronen den EBSD Detektor ohne jegliche Behinderung ereichen.

Die EM-Tec t-EBSD Halter wurden speziell für die Herstellung von Kikuchi Transmissions-Patterns entwickelt. Die Transmissions-EBSD-Halter verfügen über eine Ø2 mm Öffnung in ihrer Basis. Das Oberteil, ein Clip aus Phosphorbronze, das den TEM oder FIB Grid klemmt, ist wie eine Gabel geformt. Transmissions-EBSD Abbildungen oder Analyse sind über den gesamten Bereich der Ø2 mm Öffnung möglich. Die EM-Tec t-EBSD Halter können je nach Ausführung 1 oder 3 Grids halten. Die Auswahl umfasst:

  • EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalter für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin. Zum Montieren auf einem existierenden, vorgekippten EBSD Halter für Stiftprobenteller
  • EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalter für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin. Zum Montieren auf einem existierenden, vorgekippten EBSD Halter für Stiftprobenteller
  • EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Std. Pin / M4 Gewinde
  • EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, Std. Pin / M4 Gewinde

Daten, Maße und Spezifikationen den EM-Tec t-EBSD Probenhaltern und Probenhalter-Kits

Artikelnr.

Typ

Kippwinkel

Maße ohne Pin

TEM Grids

Aufnahme

12-002371

EM-Tec T1

–    t-EBSD

6x11x4,5 mm

1

3,2mm Pin Stub

12-002373

EM-Tec T3

–    t-EBSD

16x11x4,5 mm

3

3,2mm Pin Stub

12-0002271

EM-Tec TE1

70° /20° t-EBSD

Ø12,7 x 30 mm

1

3,2mm Pin Stub

12-0002273

EM-Tec TE3

70° /20° t-EBSD

Ø12,7 x 30 mm

3

3,2mm Pin Stub

12-0003371

EM-Tec TE1

70° /20° t-EBSD

Ø12,7 x 30 mm

1

M4 Gewinde

12-0003373

EM-Tec TE3

70° /20° t-EBSD

Ø12,7 x 30 mm

3

M4 Gewinde


Bestellinformationen zu den EM-Tec t-EBSD Haltern für TEM oder FIB Lift-Out Grids. Zum Montieren auf einem existierenden, vorgekippten EBSD Halter für Stiftprobenteller. Für REM mit Pin Stub Aufnahme; FEI, Philips, Zeiss, LEO, TESCAN, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, und CamScan

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalter für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalter für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002373 Stück €450,00
Anz:



EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalter für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalter für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002371 Stück €295,50
Anz:



3 x EM-Tec Ersatz TEM Clip für EM-Tec t-EBSD Halter mit 3 x M2 x 3 mm Messingschrauben 3 x EM-Tec Ersatz TEM Clip für EM-Tec t-EBSD Halter mit 3 x M2 x 3 mm Messingschrauben
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002270 Pack/3 €75,00
Anz:


Bestellinformationen zu den EM-Tec t-EBSD Probenhalter mit 20° / 70° Vorkippung für REM mit Pin Stub Aufnahme; FEI, Philips, Zeiss, LEO, TESCAN, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, und CamScan

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit für drei 20° / 70° TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit für drei 20° / 70° TEM / FIB Lift-Out Grids, Standard Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002273 Stück €482,50
Anz:



EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, Standard Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-002271 Stück €327,50
Anz:


Bestellinformationen zu den EM-Tec t-EBSD Probenhalter mit 20° / 70° Vorkippung für Hitachi REM und EM-Tec vielseitige REM Probentischadapter

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, M4 Gewinde EM-Tec TE3 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für drei TEM / FIB Lift-Out Grids, M4 Gewinde
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003273 Stück €480,50
Anz:



EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, M4 Gewinde EM-Tec TE1 t-EBSD Probenhalterkit 20° / 70° für ein TEM / FIB Lift-Out Grid, M4 Gewinde
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003271 Stück €325,50
Anz:






REM Zubehör

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  Adapter für Probentische
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  REM Präparationshalter
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  D801W Vakuummessung
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  Nicht-leitfähige Kleber
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  AFM/SPM Pinzetten
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LM


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  Glas-Objektträger
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  Polymerpipetten
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