product field
product field2
contact field
contact field2

Micro-Tec Greifpinzetten für AFM-/SPM-Scheiben


Micro-Tec Greifpinzetten für AFM-/SPM-Scheiben

Einleitung

Die Micro-Tec Greifpinzetten wurden zum einfachen und sicheren Greifen von Edelstahlscheiben für AFM- und SPM-Systeme entwickelt. Die Spitzen der Greifpinzetten sind so geformt, dass sie die Ränder der Scheiben sichergreifen. Bestens dazu geeignet, AFM-/SPM-Scheiben nach der Bestückung von einer flachen Oberfläche zu heben. Die Spitzen der Greifpinzetten sind nicht beschichtet und haben für bessere Haftung gerade, feine Kanten. Greifpinzetten sind erhältlich für die beliebten Ø 12 mm und Ø 15 mm AFM-/SPM-Scheiben. Die Greifpinzetten sind aus paramagnetischem (nicht magnetischem) Edelstahl gefertigt und haben eine seidenmatte Oberfläche. Sie sind 115 mm lang.

Technical Support Bulletin: TSB 50-040012 Material used for the Micro-Tec AFM / SPM disc gripper tweezers (in Englisch)

Bestellinformationen zu Micro-Tec Greifpinzetten für AFM-/SPM-Scheiben


*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.

Micro-Tec 12A.AM AFM / SPM Disk-Greiferpinzette, paramagnetisch (nicht magnetisch), Edelstahl, für Ø 12 mm AFM/SPM Disks, 115 mm lang
Micro-Tec 12A.AM AFM / SPM Disk-Greiferpinzette, paramagnetisch (nicht magnetisch), Edelstahl, für Ø 12 mm AFM/SPM Disks, 115 mm lang
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
50-040012 Stück €12,50
Anz:


Micro-Tec 15A.AM AFM / SPM Disk-Greiferpinzette, paramagnetisch (nicht magnetisch), Edelstahl, für Ø 15 mm AFM/SPM Disks, 115 mm lang
Micro-Tec 15A.AM AFM / SPM Disk-Greiferpinzette, paramagnetisch (nicht magnetisch), Edelstahl, für Ø 15 mm AFM/SPM Disks, 115 mm lang
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
50-040015 Stück €12,50
Anz:


 





REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probe Vorbereitung

AFM / SPM

  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente


  Schallschutzboxen
  Kritisch-Punkt-Trockner CPD
  Cressington REM Beschichtung
  HI-Res IR-Kamera
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  Graphen Filme
  TEM Probenkontrastierung
  TEM Grid Aufbewahrung
  Kryo Grid Box
  Kathoden
  Kryo Pin für Ultramikrotome
  Kunstwimper-Manipulartorset

FIB Zubehör


  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS
  TEM
  AFM / SPM
  LM

Vakuum Zubehör


  Bullseye Vakuummessung
  D215V Vakuummessung
  D801W Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Kryo-Behälter
  OCT Kryo-Einbettungsmittel
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder & Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Edelstahlgitter
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Schneidunterlagen
  Reinigung / Handschuhe
  Diamantpolierpaste
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Mica Scheiben
  HOPG Substrate


LM


  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen