EM-Tec FIB Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller



Einleitung

Stiftprobenteller mit Vorkippung sind bei FIB/REM-Systemen nützlich, um die Probe senkrecht zur FIB-Säule zu bringen und ein gerades FIB-Abtragen in die Oberfläche der Probe zu ermöglichen. Die Vorkippungswinkel sind komplementär zu den Winkeln zwischen der FIB-Säule und der Elektronenstrahlsäule. Bei Verwendung von Vorkipp-Stiftprobenteller muss der Probentisch nicht gekippt werden. Es sind drei Typen erhältlich:

  • EM-Tec 52/38° Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller für TFS / FEI DualBeam FIB/SEM Systeme. Abmessungen ohne Stift sind Ø12,7 x 6,9 mm.
  • EM-Tec 54/36° Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller mit kurzem Stift für Zeiss CrossBeam Systeme. Abmessungen ohne Stift sind Ø12,7 x 6,9 mm.
  • EM-Tec 55/35° Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller für TESCAN FIBxSEM-Systeme. Abmessungen ohne Stift sind Ø12,7 x 6,9 mm.

Spezifikationen der EM-Tec FIB Niedrigprofil Doppel-Vorkip-Stiftprobenteller

Artikel Nr.

Winkel

FIB/REM

Art

Abmessungen ohne Stift

10-002252

52/38°

TFS / FEI DualBean

Ø12.7 mm Stiftprobenteller

Ø12.7 x 6.9 mm

10-003254

54/36°

Zeiss CrossBeam

Ø12.7 mm Stiftprobenteller

Ø12.7 x 6.9 mm

10-002255

55/35°

Tescan FIBxSEM

Ø12.7 mm Stiftprobenteller

Ø12.7 x 6.9 mm



Bestellinformationen zu EM-Tec FIB Niedrigprofil-Doppel-Vorkipp-Stiftprobenteller

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium, Aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (52°/38°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für FEI / TFS Dualbeam, aluminium, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002252 Stück €6,50
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EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxSEM, aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (55°/35°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Tescan FIBxSEM, aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-002255 Stück €6,50
Qty:

 

EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss CrossBeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium, Aluminium EM-Tec Niedrigprofil- Doppelvorkippung (54°/36°) REM Stiftprobenteller Ø12.7 mm für Zeiss CrossBeam, kurzer Zeiss Stift, aluminium, Aluminium
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-003254 Stück €6,50
Qty:

 



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