product field
product field2
contact field
contact field2

 Übersicht Mikroskopkalibration, Test- und Referenzstandards


Kalibrationsstandards sind unverzichtbare Hilfsmittel zur Kalibrierung von Mikroskopen und Röntgenanalysesystemen. Nur kalibrierte Systeme liefern präzise Daten. Diese Übersicht zeigt die erhältlichen Kalibrationsstandards für REM, FIB-REM, TEM, EDX/WDX, LM und digitale Mikroskopiesysteme. Diese vielseitigen, präzisen und preisgünstigen Kalibrationsstandards ermöglichen optimale Kalibration Ihres Mikroskops.


 

REM - FIB - FE-REM - Tabletop REM

MCS-0.1 rckverfolgbarer oder zertifizierter Kalibrationsstandard fr hohe Vergrerungen
MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandard fr mittlere und geringe Vergrerungen, rckverfolgbar LAMC-15rckverfolgbarer, groflchiger Vergrerungsstandard

MCS-0.1 rückverfolgbarer oder zertifizierter Kalibrationsstandard für hohe Vergrößerungen

MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandard für mittlere und geringe Vergrößerungen, rückverfolgbar

LAMC-15rckverfolgbarer, groflchiger Vergrerungsstandard

 

M-1 & M-10 Kalibrationsstandard, mit 1 und 10 m Raster, rckverfolgbar
EM-Tec Gold auf Kohle Auflösungsstandard 1, 5-200nm Zinn auf Kohle Auflsungsstandards

M-1 & M-10 Kalibrationsstandard, mit 1 und 10 µm Raster, rückverfolgbar

Gold auf Kohle Auflösungsstandards

Zinn auf Kohle Auflösungsstandards
 

REM / EDX / WDS

 

EDX / WDX kompakte Kalibrationsstandards

EM-Tec RXS-21RE EDX / WDX Referenzstandards  fr quantitative Analyse, 21 Materialien plus F/C auf Stiftprobeteller
EM-Tec B100 Faraday-Kfig zur Strahlstrommessung

EDX / WDX kompakte Kalibrationsstandards

EDX / WDX Referenzstandards für quantitative Analyse
 

Faraday-Käfig zur Strahlstrommessung

TEM - TEM / EDX
Übersicht TEM Kalibrier-, Auflösungs- und Teststandards

TEM Auflsungsstandards
EM-Tec TS2 REM Teststandard aufgedamptes Pt/Ir EM-Tec TC3 TEM EDX Kalibration Standard kupfer Folie auf Al Netzchen

TEM Auflösungsstandards
 

TEM Teststandards

TEM EDX Standards

AFM-SPM

AFM Spitzentestprobetest auf 12mm AFM Scheibe
CS-20NG AFM Calibrier Standard  

AFM Spitzentestprobe
 

AFM XYZ Standards

 

LM – digitale Mikroskopie
Horizontale Linearmae auf Glas; linear, kreuz- und Mischmae, optional zertifiziert CCS-5 Micro-Tec Micro-Tec Silicium-basierte Kreuzmae; linear, kreuz- und Mischmae, rckverfolgbar
Micro-Tec MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandards, rückverfolgbar

Horizontale Linearmaße auf Glas; linear, kreuz- und Mischmaße, optional zertifiziert

Micro-Tec Silicium-basierte Kreuzmaße; linear, kreuz- und Mischmaße, rückverfolgbar

Micro-Tec MTC-5 Mehrfach-Kalibrationsstandards, rückverfolgbar


 

REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probe Vorbereitung

AFM / SPM

  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente


  Schallschutzboxen
  Kritisch-Punkt-Trockner CPD
  Cressington REM Beschichtung
  HI-Res IR-Kamera
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  Graphen Filme
  TEM Probenkontrastierung
  TEM Aufbewahrung
  Kryo Grid Box
  Kathoden
  Kryo Pin für Ultramikrotome
  Kunstwimper-Manipulartorset

FIB Zubehör


  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS
  TEM
  AFM / SPM
  LM

Vakuum Zubehör


  Bullseye Vakuummessung
  D215V Vakuummessung
  D801W Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Kryo-Behlter
  OCT Kryo-Einbettungsmittel
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder & Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Edelstahlgitter
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Schneidunterlagen
  Reinigung / Handschuhe
  Diamantpolierpaste
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Mica Scheiben
  HOPG Substrate


LM


  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen

 

 

 

EM-Tec multiple stub holders for Hitachi cylinder SEM stubs EM-Tec Multiple pin stub holders