product field
product field2
contact field
contact field2

EM-Tec Top Referenzhalter für metallographische Schliffproben




                                       Beispiel


                                     
EM-Tec R4 Top Referenzhalter für vier Ø 30 mm oder 1-1/4 inch (Ø 32 mm) Schliffproben

EM-Tec R4 Top Referenzhalter für vier Ø 30 mm Schliffproben
#12-000255 (mit Stift) oder #12-000355 (mit M4 Gewinde)
oder #12-000655 (Ø14mm JEOL Stub)


 

Einleitung

Die EM-Tec Top Referenzhalter stellen bei allen Schliffproben, die im Halter eingespannt werden, die gleichen Fokussierbedingungen und Abnahmewinkel bei der Röntgenmikroanalyse im REM sicher. Sie wurden für die REM EDX-/WDX-Analyse mehrerer metallographischer oder petrographischer Schliffproben entwickelt. Die Schiffproben werden gegen drei Referenzanschäge gedrückt und mit seidlichen Schrauben fixiert. Die Referenzhalter sind gedacht für den Einsatz in analytischen Großkammer REM mit großer Probenbühne. Die Halter sind aus Vakuumfesten Aluminium gefertigt, die Schrauben sind aus Edelstahl.
Es gibt drei Top Referenzhalter für unterschiedliche Größen metallographischer oder petrographischer Schliffproben:

 

EM-Tec R6 Top Referenzhalter für sechs Ø 25 mm oder 1" (Ø 25,4 mm) Schliffproben
Besteht aus einem Teil mit einer Höhe von 15mm. Er ist nach unten offen. Im Lieferumfang ist eine 10mm Höhenerweiterung enthalten, was eine maximale Probenhöhe von 24 mm ermöglicht. Die Schliffproben werden mit seitlichen Schrauben fixiert

 

EM-Tec R4 Top Referenzhalter für vier Ø 30 mm oder 1-1/4" (Ø 32 mm) Schliffproben
Für diesen Halter sind optional Adapter für Ø 25 mm oder 1" Schliffproben erhältlich. Der EM-Tec R4 Top Referenzhalter besteht aus zwei Teilen: Oberteil mit Refernzanschlägen und Unterteil mit Schrauben, um die Schliffproben gegen die Referenzanschlägen zu drücken. Die maximale Höhe der Schliffproben beträgt 20 mm. Die Schliffproben werden seitlich mit Schrauben fixiert. Werden niedrigere Schliffproben oder dünne Proben eingesetzt, gibt es Ø 25 mm Distanzscheiben, um sicher zu gehen, dass die Proben gegen die Referenzanschläge gedrückt werden. Die Höheneinstellung der Proben von unten ermöglicht leichte Winkelkorrekturen, falls die polierte Oberfläche der Schliffprobe nicht perfekt rechtwinklig zum Zylinder ist. Der EM-Tec R4 Top Referenzhalter kann auch ohne Unterteil benutzt werden, wobei das Oberteil mittels eine M4 Schraube auf einem EM-Tec REM Probentischadapter befestigt wird.

 

EM-Tec R2 Top Referenzhalter für zwei Ø 40 mm oder 1-1/2" (Ø 38 mm) Schliffproben
Der EM-Tec R2 Top Referenzhalter besteht aus zwei Teilen: Oberteil mit Refernzanschlägen und Unterteil mit Schrauben, um die Schliffproben gegen die Referenzanschläge zu drücken. Die maximale Höhe der Schliffproben beträgt 20 mm. Die Schliffproben werden seitlich mit Schrauben fixiert. Werden niedrigere Schliffproben oder dünne Proben eingesetzt, gibt es Ø 32 mm Distanzscheiben, um sicher zu gehen, dass die Proben gegen die Referenzanschläge gedrückt werden. Die Höheneinstellung der Proben von unten ermöglicht leichte Winkelkorrekturen, falls die polierte Oberfläche der Schliffprobe nicht perfekt rechtwinklig zum Zylinder ist. Der EM-Tec R2 Top Referenzhalter kann auch ohne Unterteil benutzt werden wobei das Oberteil mittels eine M4 Schraube auf einem EM-Tec REM Probentischadapter befestigt wird.

 

Daten, Maße und Kompatibilität der EM-Tec Top Referenzhalter:

Name

Artikelnr.

Proben-größe

Proben

Max. Höhe

Top / Basis

Proben- bereich

Maße

REM comp.

EM-Tec R6

12-000259

Ø 25 mm/ 1"

6

24 mm

Ja / Nein

Ø 90 mm

Ø98mmx25mm

3,2 mm Pin Stub

EM-Tec R6

12-000359

Ø 25 mm/ 1"

6

24 mm

Ja / Nein

Ø 90 mm

Ø98mmx25mm

M4

EM-Tec R6

12-000659

Ø 25 mm/ 1"

6

24 mm

Ja / Nein

Ø 90 mm

Ø98mmx25mm

Ø14 mm JEOL

EM-Tec R4

12-000255

Ø 30 mm/ 1-1/4"

4

20 mm

Ja / Ja

68x68 mm

Ø96mmx25mm

3,2 mm Pin Stub

EM-Tec R4

12-000355

Ø 30 mm/ 1-1/4"

4

20 mm

Ja / Ja

68x68 mm

Ø96mmx25mm

M4

EM-Tec R4

12-000655

Ø 30 mm/ 1-1/4"

4

20 mm

Ja / Ja

68x68 mm

Ø96mmx25mm

Ø14 mm JEOL

EM-Tec R2

12-000252

Ø 40 mm/ 1-1/2”

2

20 mm

Ja / Ja

88x40 mm

103x46x26mm

3,2 mm Pin Stub

EM-Tec R2

12-000352

Ø 40 mm/ 1-1/2"

2

20 mm

Ja / Ja

88x40 mm

103x46x26mm

M4

EM-Tec R2

12-000652

Ø 40 mm/ 1-1/2"

2

20 mm

Ja / Ja

88x40 mm

103x46x26mm

Ø14 mm JEOL

Erhältlich mit:

  • Standard Stiftaufnahme für REM mit Standard Pin; FEI, Philips, Tescan, Phenom, Pemtron, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC und Novascan REM
  • M4 Gewindebohrung kompatibel mit Hitachi REM, FE-REM, Tabletop REM oder EM-Tec REM Adaptern
  • Ø14 mm JEOL Stub kompatibel mit JEOL REM-Probentischapter mit 14 mm Loch

Bestellinformationen zu EM-Tec Top Referenzhalter für REM mit Stiftaufnahme (Pin Stub); FEI, Philips, Zeiss, LEO, Tescan, Phenom, Pemtron, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC und Novascan REM

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallogrpahische Schliffproben, Std. Pin EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallogrpahische Schliffproben, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000259 EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin
Anz:

Stück €298,00


EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1 1/4 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1 1/4 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000255 EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1-1/4 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin
Anz:

Stück €388,00


EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000252 EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, Std. Pin
Anz:

Stück €398,00

Bestellinformationen zu EM-Tec Top Referenzhalter für Hitachi REM oder EM-Tec REM Adapter

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallographische Schliffproben, M4 EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallographische Schliffproben, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000359 EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallographische Schliffproben, M4
Anz:

Stück €295,00


EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1 1/4 Zoll metallographische Schliffproben, M4 EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1 1/4 Zoll metallographische Schliffproben, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000355 EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1 -1/4 Zoll metallographische Schliffproben, M4
Anz:

Stück €385,00


EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, M4 EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, M4
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000352 EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, M4
Anz:

Stück €395,00

Bestellinformationen zu EM-Tec Top Referenzhalter für JEOL REM Probentisch-Adapter mit Ø14mm Loch

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallographischen Schliffproben, Ø14mm JEOL stub EM-Tec R6 Top Referenzhalter für 6x Ø 25 mm / 1 Zoll metallographischen Schliffproben, Ø14mm JEOL stub
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000659 Stück €298,00
Anz:



EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1-1/4 Zoll metallographische Schliffproben, Ø14mm JEOL stub EM-Tec R4 Top Referenzhalter für 4x Ø 30 mm / 1-1/4 Zoll metallographische Schliffproben, Ø14mm JEOL stub
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000655 Stück €388,00
Anz:



EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, Ø14mm JEOL stub EM-Tec R2 Top Referenzhalter für 2x Ø 40 mm / 1 -1/2 Zoll metallographische Schliffproben, Ø14mm JEOL stub
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000652 Stück €398,00
Anz:


Ordering information for Optional parts for the EM-Tec R4 reference holders #12-000255 & 12-000355

*Nettopreise zuzüglich gesetzlicher Umsatzsteuer. Wir verkaufen nicht an Privatpersonen.


EM-Tec R4 Adapterhülse für 25 mm / 1 EM-Tec R4 Adapterhülse für 25 mm / 1
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-000354 EM-Tec R4 Adapterhülse für 25 mm / 1" metallographische Schliffproben
Anz:

Stück €14,50


Distanzscheibe Ø 32 x 5 mm für EM-Tec R2 Referenzhalter Distanzscheibe Ø 32 x 5 mm für EM-Tec R2 Referenzhalter
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003355 Distanzscheibe Ø 32 x 5 mm für EM-Tec R2 Referenzhalter
Anz:

Stück €2,50


Distanzscheibe Ø 25 x 5 mm für EM-Tec R4 Referenzhalter Distanzscheibe Ø 25 x 5 mm für EM-Tec R4 Referenzhalter
Artikel # Einheit Preis* Bestellung / Anfrage
12-003354 Distanzscheibe Ø 25 x 5 mm für EM-Tec R4 Referenzhalter
Anz:

Stück €1,50



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probe Vorbereitung

AFM / SPM

  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits

Instrumente


  Schallschutzboxen
  Kritisch-Punkt-Trockner CPD
  Cressington REM Beschichtung
  HI-Res IR-Kamera
  TEM Sample Prep
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  Graphen Filme
  TEM Probenkontrastierung
  TEM Grid Aufbewahrung
  Kryo Grid Box
  Kathoden
  Kryo Pin für Ultramikrotome
  Kunstwimper-Manipulartorset

FIB Zubehör


  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS
  TEM
  AFM / SPM
  LM

Vakuum Zubehör


  Bullseye Vakuummessung
  D215V Vakuummessung
  D801W Vakuummessung
  Schnelltest-Druckmesser
  KF/NW Vakuumbauteile
  Vakuumöle und Fette
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Verdampferkörbe
  Quarz Kristalle
  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Kryo-Behälter
  OCT Kryo-Einbettungsmittel
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder & Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Edelstahlgitter
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Schneidunterlagen
  Reinigung / Handschuhe
  Diamantpolierpaste
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Mica Scheiben
  HOPG Substrate


LM


  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen