EM-Tec FIB angeschrägte oder vorgekippte Stiftprobenhalter

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• EM-Tec FIB vorgekippte Stiftprobenhalter 
  • EM-Tec P36 Halter, 36° Schräge, für Zeiss FIB-Systeme, Ø 12,7 x 17 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P38 Halter, 38° Schräge, für TFS / FEI FIB-Systeme, Ø 12,7 x 17 mm, Std. Pin
  • EM-Tec P35 Halter, 35° Schräge, für Tescan FIB-Systeme, Ø 12,7 x 17 mm, Std. Pin

                           Beispiel

  

 

Angeschrägte Probenhalter sind nützlich beim Einsatz in FIB-REM-Systemen, um die Probe rechtwinklig zur FIB-Säule zu positionieren. Dies ermöglicht gerades FIB-Milling in die Probenoberfläche. Die angeschrägten Winkel passen zum jeweiligen Winkel zwischen FIB- und Elektronensäule. Durch die angeschrägten Probenhalter muss die Probenbühne nicht oder weniger stark gekippt werden. Drei Modelle sind erhältlich:

• EM-Tec P38 Probenhalter mit fester 38° Schräge für FEI Pin Stubs. Für eine Vorkippung der Probe um 38° für FEI Dual Beam FIB-Systeme. Größe ohne Pin: Ø 12,7 x 17 mm
• EM-Tec P36 Probenhalter mit fester 36° Schräge für ZEISS Pin Stubs. Für eine Vorkippung der Probe um 36° für Zeiss CrossBeam FIB-Systeme. Größe ohne Pin: Ø 12,7 x 17 mm
• EM-Tec P35 Probenhalter mit fester 35° Schräge für Standard und TESCAN Pin Stubs. Für eine Vorkippung der Probe um 35° für TESCAN FIB-Systeme. Größe ohne Pin: Ø 12,7 x 17 mm

Specifications of the EM-Tec pre-til stub holders

EM-Tec P36 Halter, 36° Schräge, für Zeiss FIB-Systeme, Ø 12,7 x 17 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 10-002236 Stück €39,50 Qty:

EM-Tec P38 Halter, 38° Schräge, für TFS / FEI FIB-Systeme, Ø 12,7 x 17 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 10-002238 Stück €39,50 Qty:

EM-Tec P35 Halter, 35° Schräge, für Tescan FIB-Systeme, Ø 12,7 x 17 mm, Std. Pin Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage 10-002235 Stück €39,50 Qty: