Nano-Tec titannitridbeschichtete Silizium Wafer und Objektträger
Titannitridbeschichtete Silizium Wafer und Objektträger


Einleitung
Nano-Tec titannitridbeschichteten Silizium Wafer, Ø 4 Zoll / 100 mm, 525 µm dick, 100 nm Al
Nano-Tec titannitridbeschichtete Objektträger, 75 x 25 x 1 mm, 100 nm Al

Die mit Titannitrid beschichteten Substrate sind als Ø 4"/100mm Silizium-Wafer und als Mikroskop-Objektträger erhältlich, beschichtet mit 50nm reinem Titannitrid (99,995%). Dünne Schichten aus Titannitrid (TiN) haben eine ausgezeichnete thermische und biologische Stabilität, Festigkeit und Korrosionsbeständigkeit unter extremen Bedingungen. TiN wird häufig als wirksame Hartbeschichtung auf Stahl-, Karbid- und Aluminiumteilen eingesetzt. Es wird auch zum Schutz von Gleitflächen und als tribologische Schicht für Schneidwerkzeuge verwendet und ist eine hervorragende ungiftige Beschichtung, die in biomedizinischen Geräten eingesetzt wird. Dünnschicht-TiN wird auch in der Mikroelektronik verwendet und dient sowohl als Metall- und Siliziumdiffusionsschicht als auch als hervorragende leitende Verbindung zwischen aktiven Bauteilen und
Für diese Beschichtung wird ein effektives Niedertemperaturverfahren zur Abscheidung ultrareiner, hochdichter und leitfähiger TiN-Dünnschichten (~ 50-70 µΩ-cm) auf Glas- und Siliziumsubstraten eingesetzt. Dies wird durch eine neue reaktive bipolare Hochleistungsimpuls-Magnetronsputtering (Bi-HiPIMS)-Technologie erreicht. HiPIMS verwendet gepulste Energie mit sehr hoher Spitzenleistungsdichte, die eine hohe Ionisierung der gesputterten Spezies bewirkt. Unmittelbar nach dem normalen negativen HiPIMS-Puls wird eine positive Gegenspannung angelegt ("bipolares" HiPIMS), die diese Ionen auf die Substratoberfläche beschleunigt und sie gleichzeitig reaktivem N2-Gas aussetzt. Dieser Ionenbeschuss auf der Oberfläche der wachsenden Schicht ist für die Erzeugung einer hochwertigen und dichten TiN-Beschichtung von wesentlicher Bedeutung, ohne dass extreme Temperaturen erforderlich sind, wie sie bei herkömmlichen Sputterverfahren häufig vorkommen. Die Titannitridschicht ist nicht atomar flach; es gibt Höhenunterschiede im nm-Bereich. Zum Schutz werden die Wafer in Wafer-Transportboxen und die Objektträger in Objektträgerschachtel verpackt


Spezifikationen der Nano-Tec titannitridbeschichteten Silizium Wafer und Objektträger:

Titannitrid-Beschichtung

50 nm TiN (99,995% Reinheit)

Adhäsionsfilm

Keiner

Oberflächerauheit

Einige nm

Substrate

Silizium Wafer

Mikroskop-Objektträger

Substrat- Größe

Ø 4” / 100 mm

75 x 25 mm

Substrat-Dicke

525 µm (+/- 20 µm

1 mm

Substrat-Material

P (Boron) -  <100> - 1-30 Ohm/cm

Borofloat 33 – Borosilikat Glas



Spezifikationen der Nano-Tec titannitridbeschichteten Silizium Wafer und Objektträger

*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
Nano-Tec titannitrid-beschichteter Silizium Wafer, Ø 4 Zoll / 100 mm, 525 µm dick, 50 nm TiN Nano-Tec titannitrid-beschichteter Silizium Wafer, Ø 4 Zoll / 100 mm, 525 µm dick, 50 nm TiN
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-TN8140-3 Pkg/3 €1590,00
Qty:

 

Nano-Tec titannitrid-beschichtete Objektträger, 75 x 25 x 1 mm, 50 nm TiN Nano-Tec titannitrid-beschichtete Objektträger, 75 x 25 x 1 mm, 50 nm TiN
Artikel # Einheit Preis Bestellung / Anfrage
10-TN8631-10 Pack/10 €1590,00
Qty:

 



REM Zubehör

TEM Zubehör

Kalibrierung

Probenvorbereitung

AFM / SPM

  Produktübersicht mit Bilder
  REM Probenteller
  Kohlenstoffklebepads
  Adapter für Probenteller
  Adapter für Probentische
  REM Probenhalter
  REM Präparationshalter
  EM Kathoden
  Silizium-Such-Substrate
  Gatan 3View Probenteller
  FEI Volumescope Probenteller
  Boxen für Probenteller
  Phenom Zubehör
  JEOL NeoScope Zub.
  Hitachi TM Zubehör
  Probenhalterkits
  FlowView Flüssigproben-Halter

Instrumente

  Schallschutzboxen
  Cressington REM Beschichtung
  TEM Sample Prep
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Präzisions-Diamantsäge
  TEM Netzchen
  Trägerfilme
  Siliziumnitrid Trägerfilme
  K-kit Nasszelle
  Graphen Filme
  TEM Grid Boxen
  Kryo Grid Boxes
  TEM Probenkontrastierung
  TEM 3mm Einbettungsrörchen
  Kathoden
  Kunstwimper-Manipulartorset

Kryo Zubehör

  Kryo Grid Box
  Weiteres Kryo Zubehör

FIB Zubehör

  FIB Lift-out Grids
  FIB flache Probenteller
  FIB Grid Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenhalter
  FIB vorgekippte Probenteller
  FIB Grid Aufbewahrung
  REM / FIB Vergrößerung
  REM Auflösungstandards
  EDS / WDS Standars
  TEM Kalibrierung
  AFM / SPM Kalibrierung
  LM Kalibrierung

Vakuum Zubehör

  Vakuummessung
  KF/NW Vakuumbauteile
  KF/NW Vakuumschläuche
  Vakuumöle und Fette
  Vakuum-Versiegelung
  Membranvakuumpumpe
  Rotationsvakuumpumpe
  Vakuumprobenaufbewahrung
  Vakuumpinzetten

Probebeschichtung

  Sputter Targets
  Kohlenstoffstäbe & Fäden
  Quarz Kristalle
  REM Beschichtungsflüssigkeit

Bedampfung Zubehör

  Therm. Verdampfungsquellen
  Bedampfungsmaterialien
  Auflagen & Substrate
  REM Präparationshalter
  Pinzetten
  Nadeln & Sonden
  Holzspatel & Tupfer
  Polymer Transferpipetten
  Schneidwerkzeuge / Scheren
  Leitfähige Kleber
  Leitfähige Kleberbänder/Tabs
  Nicht-leitfähige Kleber
  Probenaufbewahrung
  Werkzeuge
  Sortier-Gewebe
  Probenpräparation
  Reinigung / Handschuhe
  Leitfähige Metallpulver
  Metallographie
  AFM/SPM Metallscheiben
  AFM/SPM Scheiben Aufnahme
  AFM/SPM Halter
  AFM/SPM Aufbewahrung
  Cantilever Pinzetten
  AFM/SPM Pinzetten
  Nano-Tec Mica Scheiben
  HOPG Substrate

Lichtmikroskop Zubehör

  Korrelative Deckgläschen
  Glas-Objektträger
  Deckgläschen
  Quarz Objektträger
  Quarz-Deckgläschen
  Schwarze Metallobjektträger
  Objektträger Aufbewahrung
  Kalibrierung
  Polymerpipetten
  Reinigungspapier für Linsen
  Petrischalen
  Digitalmikroskop
  PTFE Becher