EM-Tec hochreine REM Substratscheiben aus Metall
Glaskohlenstoff-Rohling und Graphit-Scheiben / Platten
Silizium Wafer, Substrate und Trägermaterialien für Proben
Nano-Tec vergoldete Silizium Wafer
Silizium Wafer, Substrate und Trägermaterialien für Proben
Nano-Tec vergoldete Silizium Wafer
EM-Tec hochreine REM Substratscheiben aus Metall
hochreine Metallscheiben, kompatibel mit REM-Probentellern
Einleitung
Die hochreinen EM-Tec REM Substratscheiben aus Metall sind gedacht als Substratscheiben für die Röntgenanalyse mit EDX oder WDX und für die Partikelanalyse in einem REM. Sie sind besonders hilfreich, wenn die Standard Stubs aus Aluminium oder Kupfer überlappende Hintergrund-Peaks erzeugen. Mit der richtigen Metallsubstratscheibe können die gesuchten Elemente in Partikeln durch Röntgenfluoreszenz angeregt werden. Die hochreinen EM-Tec REM Substratscheiben aus Metall sind erhältlich in 12 und 25 mm Durchmesser und damit kompatibel zu den beliebten Ø12,5 mm und Ø25 mm REM-Probenhaltern. Die Substrate können mit Kohletabs, Kohleklebstoff oder Silberklebstoff auf den REM-Probentellern befestigt werden.
- Erhältliche Materialien sind: Ag, Al, Co, Cu, Fe, In, Mg, Mo, Nb, Ni, Pb, Sn, Ti und Zn
- Reinheit 99,99% oder besser
- Größe sind Ø12 oder Ø25 mm, kompatibel mit gebräuchlichen REM-Probentellern
- Dicke von 0,08 bis 0,3 mm
- Oberflächeneigenschaft: glatte Folie
Ordering information for the EM-Tec high purity metal substrate discs with 12mm diameter
*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
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*Preisen ohne Umsatzsteuer, aber innerhalb der EU, müssen wir Ihr Ust.-Nummer überprufen.
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